驗箱規(guī)格/SPEC/要可按客戶要求訂制
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型 號
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HTS-42（A～C）
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HTS-80（A～C）
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HTS-150（A～C）
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HTS-252（A～C）
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HTS-450（A～C）
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內(nèi)部尺寸W×H×D(cm)
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40×35×30
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50×40×40
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60×50×50
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70×60×60
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80×75×75
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外部尺寸W×H×D(cm)
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140×180×145
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148×190×155
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160×200×175
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175×210×187
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190×220×200
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溫度范圍（測試區(qū)）
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(150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃)；(高溫區(qū)：+60℃～+150℃；低溫區(qū)-10℃～-65℃)
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升溫時間(蓄熱區(qū))
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RT～200℃約需35min
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降溫時間(蓄冷區(qū))
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RT～-70℃約需85min
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溫度回復(fù)時間／轉(zhuǎn)換時間
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≤5min內(nèi) / ≤l0秒內(nèi)
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溫度控制精度／分布精度
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±0.5℃／±2.0℃
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保溫材質(zhì)
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耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料
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系統(tǒng)
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P．I．D + S．S．R + 微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)
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冷卻系統(tǒng)
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半密閉式雙段壓縮機(jī)(水冷式)／全密閉式雙段壓縮機(jī)(風(fēng)冷式)
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**保護(hù)裝置
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無熔絲開關(guān)、壓縮機(jī)高低壓保護(hù)開關(guān)，冷媒高壓保護(hù)開關(guān)、故障警告系統(tǒng)，電子警報器
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配 件
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觀視窗(特殊選購型)、上下可調(diào)隔層兩片、通電測試孔、腳輪、水平支架
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電 源
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AC380V 50Hz／60Hz 3 ∮
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重量(大約
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700Kg
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900Kg
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l200Kg
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1400Kg
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1900Kg
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冷熱沖擊試驗箱特點:
采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡易.
設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體釆獨特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。
沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。
高溫沖擊或低溫沖擊時，*大時間可達(dá)9999分鐘，*大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
系統(tǒng)可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種。
可連接電腦，記錄儀僅為選購件。
彩色LCD液晶觸控式控制器的特點：
控制器的各項操作皆以人機(jī)觸控方式進(jìn)行。
人性化的圖控介面讓使用者更容易使用及了解機(jī)械狀態(tài)。
提供及時線上說明，免除閱讀說明書的困擾。
超大溫度值顯示,提供*佳的顯示效果.
冷熱沖擊試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗A：低溫試驗方法；
2.GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗B：高溫試驗方法；
3.GB/T2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗Ca：恒定交變濕熱試驗方法。
4.GB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法
5.GB/T2423.3-2006（IEC68-2-3）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
6.GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Da:交變濕熱試驗方法
7.GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法
8.GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法
9.GJB150.9-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》
10.GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗：恒定濕熱試驗》
11.GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗：交變濕熱試驗》
12.GJB367.2-1987《**通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》濕熱試驗
13.GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》
14.GB/T5170.5-96《濕度試驗設(shè)備》
15.GB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
16.GB/T10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
17.GB/T10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》
18.GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》
